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[自研]光纖微裂紋檢測儀測量長度升級至1m是什么概念?

更新時(shí)間:2023-02-08 點(diǎn)擊量:576

光纖微裂紋檢測儀以白光干涉為原理,最初受限于延時(shí)纖的測量長度只能測試6cm,使得測試場景非常局限。經(jīng)過3年多的技術(shù)鉆研,在剛剛過去的2022年里,東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個(gè)難關(guān),在光纖測量長度上實(shí)現(xiàn)了二連跳,1月測量長度從最初的6cm升級至12cm,10月測量長度從12cm升級至40cm。到了2023年年初,光纖微裂紋檢測儀測量長度直接升級至1m,快速實(shí)現(xiàn)三級跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級,都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗(yàn)。

 

本次,光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,不僅為用戶解決匹配跳線、測試繁瑣等問題。而且還能更大限度的包容待測樣品,并為測試器件留有更大空間,讓用戶使用起來更便捷。此外,在設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍,在升級長度過程中,會不斷迭代已有的光路和模塊,進(jìn)行長時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,以優(yōu)化的結(jié)構(gòu),提升設(shè)備測試效果為目的。

 

下圖為光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路,該器件長0.955m,末端是保偏光纖,OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。



保偏光鏈路測試圖


東隆科技推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI),該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗, 進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能,其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米,最小可探測到-80dB光學(xué)弱信號, 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。


OLI.png

低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)


產(chǎn)品特點(diǎn)

? 1μm采樣分辨率

? -80dB動態(tài)范圍

? 1m測量長度

產(chǎn)品應(yīng)用

? 光纖微裂紋檢測

? 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

? FA光纖陣列鏈路性能檢測

? 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測